31/08/2021
【I-Strategy 智能決策系統】
想像一下，TFT-LCD生產流程中，無論TFT-Array、CF、Cell、LCD、LCM等諸多製程，都需要分析Defect、 SPC、 Yield、 Reliability等數據來進行品質追蹤。
以往良率查找皆是從Defect、SPC追溯，通常以Defect斷線或判斷批號連續性作數據分析。
當製程愈發精密，數據維度愈發多元，製程問題已不再以單一維度發生，可能黃光、蝕刻；抑或是跨FAB、跨機台、跨配方因子產生問題異常，而干擾 #製程寬容度。
面對數據多維、製程多變，您需要一套提供迅速判斷問題真因的
I-Strategy 內建五大分析系統，提供秒即分析、真因定位五大功能。
【PM(製程機台)】、【PP(產品製程)】、【PT(製程時間)】、【PE(製程事件)】、【MS(機台訊號)】
若遇查找無頭緒，可直接執行【All Analysis】進行全站點、全製程全數據方式分析，系統透過Domain-Knowhow智能分析，真因呈現結果以可視化方式一覽無遺，有效將原本需要一周分析時間縮短成分鐘之內。
I-Strategy 五大分析系統解說：
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【PM 製程機台分析系統】
分析異常機台，秒即定位異常站點與設備
•秒即定位來自製程站點與設備的成因
•進階分析設備生產參數
•異常發生起點分析多元站點與資料源
【PP 產品製程分析系統】
產品部門可直接進行設備、產品健康度定義
•秒即定位來自製程品管參數的成因
•進階多維度及多站多數據源交叉分析
【PT 製程時間分析系統】
提供品保單位進行製程時間、產品種類異常之真因定位
•秒即定位來自生產製程時間的成因
•異常發生起點分析多元站點資料源
【PE 製程事件分析系統】
搭載數位雙生(Digital Twin) 進行製程事件分析，提供設備、產品、製程、物料、配方、生產班別、天災、地震、颱風等
•秒即定位來自生產變數產生事件的成因
•異常發生起點分析多元站點與資料源
【MS 機台訊號分析系統】
分析常見FDC Summary & Trace data 設備訊號
•秒即定位來自全製程設備生產參數的成因
•異常發生起點分析多元站點與資料源
【All-Analysis 全數據分析系統】
系統將以全自動、全數據、全維度進行智能大數據分析
•秒即定位來自全生產流程中設備/產品/環境/事件成因
•進階多維度及多站多數據源交叉分析
•異常發生起點分析多元站點與資料源
【決策中心】
I-Strategy提供分析決策戰情管理中心，縮短誤判時間，快速定位問題，節省良率改善工程費用。
1.高效縮短問題發生到解決流程所需的分析決策時間
2.縮短判斷試錯的頻率
3.節省問題發生產生的損失
4.提升良率品質及生產力
5.提升客戶滿意度與產品達交率
6.創造多維數據潛在價值
7.全面性的智能管理生產製造價值，創造領導競爭力
