26/05/2026
AI、高速運算與先進封裝快速發展,IC 設計正面臨更高的可靠度與 ESD 驗證挑戰。
Siemens EDA 將攜手台灣靜電放電防護協會(T-ESDA),於 6/17 在新竹國賓大飯店共同舉辦「高速介面 ESD 與 IC 可靠度驗證技術研討會」,聚焦高速介面 ESD Protection、Power Domain Analysis、Reliability Verification 與 3D IC scalable checking 等關鍵議題。
活動將涵蓋:
▪ >100Gbps 高速介面 ESD Protection 設計挑戰
▪ Insight Analyzer 早期可靠度檢查與 Power Domain Analysis
▪ Calibre LVS Recon + PERC Reliability Verification
▪ 3D IC 多晶粒架構下的 Scalable Reliability Checking
掌握高速介面與 3D IC 時代下的 ESD 與可靠度驗證關鍵技術
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隨著 AI、高速運算與先進封裝技術快速發展,IC 設計面臨更高的可靠度與 ESD 保護挑戰,尤其在 >100Gbps 高速介面、多電源域設計與 3D IC 架構下,傳統驗證方式已難以全面因應。