CXsemi 承湘科技股份有限公司

15/07/2026

【從看見異常，到量測異常｜CXsemi 智慧製造應用再升級】

在半導體奈米製程中，晶圓在設備內傳送時所受到的微小振動、衝擊或水平傾斜，都可能影響製程穩定性與最終良率。

CXsemi 承湘科技除了運用智慧視覺系統，監控破片、偏移、掉片及製程環境異常之外，近期更與巨克富科技合作，導入 VSS II 智慧感測晶圓與 WVS 無線振動感測系統。

VSS II 是將振動感測晶片整合於 12 吋模擬晶圓內，讓VSS II能依照實際晶圓的傳送路徑，進入 Load Port、EFEM、機械手臂及製程腔體等不同位置，完整模擬晶圓在設備內的移動過程。

在傳送過程中，系統可即時收集：

▪ 晶圓振動資訊
▪ 衝擊變化
▪ 水平傾斜角度
▪ 不同位置與動作階段的異常數據

量測訊號可透過藍牙無線傳輸，即時傳送至監控端，協助工程人員找出異常發生的位置與時間點，並進一步分析設備動作、晶圓傳送與製程品質之間的關聯。

目前此項技術已於實際案例中發揮成效，協助客戶掌握過去難以量化的振動與傾斜問題，進而優化設備參數、提升製程穩定性，並降低潛在良率風險。

從智慧視覺到無線感測，CXsemi 持續整合影像、振動、水平與數據分析技術，為半導體智慧製造提供更完整的製程監控解決方案。

#承湘科技 #巨克富科技 #半導體 #智慧製造 #振動監測 #水平監測 #晶圓傳送 #製程監控 #良率提升

21/05/2026

🔬 CXsemi 承湘科技 -晶圓光學檢測模組

近期承湘科技採用工研院團隊技術，投入新一代晶圓表面 Particle 光學檢測模組開發，針對半導體製程中對潔淨度與表面異物控管的需求，提供更高彈性、更貼近現場應用的檢測方案。

本模組可應用於：

✅ 矽晶圓
✅ 玻璃晶圓
✅ SiC 等半透明材料晶圓
✅ 6 吋、8 吋、12 吋晶圓檢測需求

檢測精度可達 0.2 微米等級，可協助客戶掌握晶圓表面 particle 狀況，進一步應用於：

🔹 半導體晶圓廠製程設備潔淨度監控
🔹 設備保養後潔淨狀態確認
🔹 製程異常追蹤與品質風險控管
🔹 晶圓表面異物檢測資料保存

承湘科技長期深耕半導體設備服務與現場應用，未來也將持續整合光學、檢測、AI 判讀與在地服務能力，協助客戶打造更穩定、更可靠的製程檢測解決方案。

歡迎對晶圓表面 particle 檢測、設備潔淨度監控、光學檢測模組有興趣的朋友與我們洽詢交流。

#承湘科技 #晶圓檢測 #光學檢測 #半導體設備 #玻璃晶圓 #智慧製造 #製程監控 #設備潔淨度

05/05/2026

https://youtu.be/vf4x_u8JlK4

We would like to thank CHIEF SI Taiwan and EFCO for their support. The launch of VSS II at the 2026 Southeast Asia Semiconductor Exhibition received an immediate and enthusiastic market response. Its applications cover quality monitoring in robotic arm maintenance, as well as vibration, temperature, and humidity monitoring within semiconductor process chambers and wafer storage systems, providing critical technical support for maintaining stable process yield.

感謝台灣巨克富（CHIEF SI）與長豐智能（EFCO）的支持。本次於2026東南亞半導體展推出的 VSS II，一經亮相即獲得市場熱烈回響。其應用涵蓋機器手臂維修領域的品質監控，以及半導體製程腔體與晶圓儲存系統內的振動、溫度與濕度監測，為製程良率的穩定提供關鍵技術支援。

23/04/2026

23/04/2026

2026 SEMICON SEA is coming soon! 東南亞半導體展
📅 Date: May 5–7, 2026
📍 Venue: MITEC, Kuala Lumpur, Malaysia
🔹 CXsemi Booth: Taiwan Pavilion 2685

We warmly welcome you to visit CXsemi at SEMICON SEA 2026.
At the exhibition, we will showcase:
• Smart manufacturing machine vision applications for wafer fabs
• 2D / 3D advanced packaging inspection
• Wafer warpage / stress inspection
• Fully automated microscopes
• Particle Surface Scan for wafer surface contamination inspection

We look forward to connecting with industry partners and professionals to explore new possibilities in semiconductor smart manufacturing and inspection technologies.

27/03/2026

現在，不必更換原有 NVR 架構。
只要在既有監控系統上，加上承湘科技的 SVS-Core 與 SVS-I/O，就能在保留原有錄影功能的同時，快速增加智慧辨識能力。

17/02/2026

新春佳節之際，本公司謹向全體客戶致上最誠摯祝福與感謝。

願新的一年
營運順利、業績成長、宏圖再展；
合作長久、互信深化、共創雙贏

31/12/2025

To everyone who sees this message, may the new year bring you good fortune, peace, and success in all that you do.

看到這段話的朋友，願您新的一年好運相隨、平安順利、心想事成。

13/12/2025

【SEMICON Japan 2025｜展會快訊】

日星產業（Nissei）攜手入江商社（Irie）承湘科技 CXsemi
共同參加 SEMICON Japan 2025

Nissei Corporation invites Irie Trading and CXsemi Technology to jointly exhibit at SEMICON Japan 2025.

📍 地點：東京 Big Sight 國際展覽中心
📅 日期：12/17–12/19
🏷 攤位號碼：E4413

🔹 展出重點
• Smart Vision 智慧機器視覺
• MWG-200 晶圓 Bow / Warp / Stress 量測
• 2D / 3D Hybrid Metrology 混合式光學量測

誠摯邀請半導體產業先進蒞臨交流，一同探討智慧製造與先進量測的實務應用。

#半導體 #智慧製造